通知公告
关于召开植物表型研讨会的通知
发布人: 发布日期: 2016-06-01 浏览次数:
为进一步促进我校科研人员更深入地了解植物表型领域最新的产品及测量技术，定于2016年6月3日在行政楼A613会议室召开植物表型研讨会。会议内容包括AgriPhenoTM高通量植物表型平台介绍、叶绿素荧光技术——检测植物生理状态的有效探针、表型分析与LemnaTec表型系统的性状分析的应用、自动取样与种子质量控制解决方案、生理生态与田间表型分析的光学传感器应用、整幅图片的影响力—植物根系分析。
会议日程：
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会议时间 |
会议内容 |
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9:00-9:50 |
Phenotyping Applications and Trait Analyses performed by LemnaTec (主讲人：Stefan，德国LemnaTec公司应用科学家) |
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9:55-10:45 |
The Solution of Automatic Sampling and Seed Quality Control (主讲人：Henri DelosRios ，法国ALCI公司应用科学家) |
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10:50-11:40 |
Optical sensors for ecophysiology and field phenotyping (主讲人：Marc，法国Force-A公司应用科学家) |
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14:00-14:45 |
The Power of the Whole Picture——Plant Root Analysis (主讲人：Ronald Michaels ，美国Phenotyping Screening公司应用科学家) |
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14:45-16:15 |
叶绿素荧光技术——检测植物生理状态的有效探针 （主讲人：郑宝钢，上海泽泉科技技术部主管） |
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16:15-17:00 |
AgriPhenoTM高通量植物表型平台介绍 （主讲人：吕中贤，上海泽泉科技市场部经理） |
请感兴趣的老师参加研讨！
科研院
2016年6月1日